工作內(nèi)容:
1.測(cè)試程序開(kāi)發(fā):在 ATE機(jī)臺(tái)(如 ACCO TEST, MT1000等)編寫(xiě)芯片測(cè)試程序
2.硬件調(diào)試:設(shè)計(jì)和調(diào)試LQagBgard(測(cè)試板),確保芯片在 ATE 機(jī)臺(tái)上能穩(wěn)定測(cè)試。
3.量產(chǎn)支持:分析良率、處理量產(chǎn)中出現(xiàn)的失效品,優(yōu)化測(cè)試時(shí)間和測(cè)試覆蓋率。 4.失效分析協(xié)助:配合設(shè)計(jì)、產(chǎn)品工程等部門進(jìn)行芯片失效分析。
5.數(shù)據(jù)分析與報(bào)告:分析測(cè)試數(shù)據(jù),進(jìn)行CP(晶圓級(jí))/FT(成品級(jí))測(cè)試結(jié)果比對(duì)。
學(xué)歷要求:
本科及以上學(xué)歷,電子信息、自動(dòng)化、通信工程、等相關(guān)專業(yè)。
技能要求:
1.熟悉 C/C++是基本要求。會(huì) Python、Perl、Shel 等腳本語(yǔ)言用于數(shù)據(jù)處理和自動(dòng)化更佳。
2.硬件基礎(chǔ)知識(shí):熟悉模擬電路、數(shù)字電路基本原理。會(huì)使用示波器、萬(wàn)用表、功率分析儀等儀器。
3.ATE 機(jī)臺(tái)經(jīng)驗(yàn):熟悉主流測(cè)試平臺(tái)(如 Advantest、Teradyne等)者優(yōu)先。
4.數(shù)據(jù)分析能力:能使用 Exce1、JMP、Python 等工具分析大量測(cè)試數(shù)據(jù)能與設(shè)計(jì)、封測(cè)、產(chǎn)品、品質(zhì)等部門高效協(xié)作。