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1. 負(fù)責(zé)基于Halcon的工業(yè)視覺(jué)算法開(kāi)發(fā)（定位、測(cè)量、缺陷檢測(cè)等模塊），優(yōu)化現(xiàn)有視覺(jué)算法性能，提升檢測(cè)精度與效率，支持高精度場(chǎng)景如半導(dǎo)體、3C電子或新能源產(chǎn)品缺陷檢測(cè)。 2. 硬件選型與成像方案設(shè)計(jì)，主導(dǎo)相機(jī)、鏡頭、光源等硬件的選型與打光實(shí)驗(yàn)，制定光學(xué)成像解決方案。 3. 編寫技術(shù)文檔、專利及算法報(bào)告，推動(dòng)技術(shù)沉淀。4.有外觀缺陷檢測(cè)（如表面劃傷、異物、尺寸超差等）實(shí)戰(zhàn)經(jīng)驗(yàn)。